Электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ

Специалисты

Рождествина Вероника Ивановна, руководитель АЦ, кандидат физико-математических наук


Мудровская Наталья Владимировна, младший научный сотрудник


Макеева Татьяна Борисовна, ведущий инженер


Оборудование

РЭМ JSM-6390LV (Jeol, Japan)

РЭМ LEO-1420 (England)

РЭМ JMS-35C (Jeol, Japan)

  Axio Scope.A1 (Zeiss, GmbH)


Методики

 

 

 

Вернуться к началу раздела

Если вы нашли ошибку, пожалуйста, выделите фрагмент текста и нажмите Ctrl+Enter.

© 2018 ИГиП ДВО РАН

Сообщить об опечатке

Текст, который будет отправлен нашим редакторам: