Открыть меню

РЭМ LEO-1400 (Англия)

Рисунок8-1

Растровый электронный микроскоп LEO-1420 с аналитической приставкой — рентгеноспектральный микроанализатор RONTEC (Oxford Instrument, Англия).

Электронно-микроскопические и рентгеноспектральные  исследования объектов различной природы: анализ морфологии, микроструктуры, особенностей тонкого строения, фазовой неоднородности, дисперсности, качественный и количественный элементный анализ в микрообъемах  для решения фундаментальных и прикладных задач геологии, геоэкологии, наук о материалах, междисциплинарных исследований и т.д.

 

Микроскоп:

  • Режимы высокого вакуума.
  • Детекторы: вторичных (SEI) и обратно рассеянных электронов (BEI).
  • Изображение: SEI, BEI.
  • Разрешение: 3.5 нм.
  • Увеличение: 15–300 000 (пошаговое).
  • Ускоряющее напряжение от 200 V до 39 kV: ток на образце 1 pA–1 mA.
  • Максимальный размер образца до Æ 25 мм ´ h 10 мм, максимальный вес 0.5 кг.
  • Представление результатов: фотоснимки в цифровом формате с разрешением 1280´960 или 2560´1220 в формате Bitmap, JPЕG, TIFF.

Рисунок8-3

Спектрометр:

  • Разрешение 133 eV.
  • Определяемые элементы от Na до U.
  • Набор спектра в точке.
  • Охлаждающая среда: жидкий азот.
  • Представление результатов: таблицы данных и спектры в формате Bitmap, JPЕG, TIFF, метафайл, EMSA, ISIS.

Рисунок8-2

 

 

Вернуться к выбору оборудования

Вернуться к началу раздела

© 2020 ИГиП ДВО РАН · Копирование материалов сайта без разрешения запрещено