Открыть меню

РЭМ JMS-35C (JEOL, Япония)

jeol-35C

Растровый электронный микроскоп JSM-35C с аналитической приставкой — рентгеноспектральный микроанализатор SDS-35 (JEOL, Япония).

Электронно-микроскопические и рентгеноспектральные  исследования объектов различной природы: анализ морфологии, микроструктуры, особенностей тонкого строения, фазовой неоднородности, дисперсности, качественный и количественный элементный анализ в микрообъемах  для решения фундаментальных и прикладных задач геологии, геоэкологии, наук о материалах, междисциплинарных исследований и т.д.

Микроскоп:

  • Режимы высокого вакуума.
  • Детекторы: вторичных (SEI) и обратнорассеянных электронов (BEI), поглощенного тока.
  • Изображение: SEI, BEI, AEI.
  • Разрешение: 6 нм.
  • Увеличение: 15–180 000 (пошаговое).
  • Ускоряющее напряжение от 200 V до 39 kV: ток на образце 1 pA–1 mA.
  • Максимальный размер образца до Æ 25 мм ´ h 10 мм, максимальный вес 0.5 кг.
  • Представление результатов: фотоснимки.

Спектрометр:

  • С дисперсией по длине волны.
  • Определяемые элементы от Si до U.
  • Набор спектра в точке.
  • Газово-проточный счетчик: аргон — метановая смесь.
  • Представление результатов: таблицы данных.

 

 

Вернуться к выбору оборудования

Вернуться к началу раздела

© 2020 ИГиП ДВО РАН · Копирование материалов сайта без разрешения запрещено