Лаборатория микроскопии и структурно-молекулярных исследований
Руководитель лаборатории к.ф.- м.н. Рождествина Вероника Ивановна
E-mail: veronika@ascnet.ru, science@ascnet.ru
Лаборатория занимается изучения состава, структуры и свойств природных и искусственных материалов.
Электронная микроскопия
Электронно-микроскопическая съемка морфологии и микроструктуры микрообъектов (зерна минералов, природных и искусственных веществ неорганической и органической природы) –изображение во вторичных электронах SEI;
Комплексные исследования объектов методами растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального анализа по неподготовленной поверхности: морфология, микроструктура, контраст по среднему атомному номеру с качественным определением набора химических элементов (спектры) контрастирующих зон;
Изучение фазовой неоднородности с количественным рентгеноспектральным электронно-зондовым микроанализом фаз (с размером не менее 5 мкм), полуколичественные и качественные определения фаз с размерами менее 5 мкм в точке или усреднение по выделенному участку (по плоско-полированным сечениям объектов) – микроснимок участка с помеченными точками анализа и таблица химического состава в точках анализа в масс. %;
Рентгеноспектральное картирование и профилирование химических элементов по определенным спектральным характеристическим линиям по заданному участку (плоско-полированные поверхности) – микроснимки участков с набором карт (профилей) распределения по заданным длинам волн или с наложением на сканируемый участок карт распределения с цветовой идентификацией рентгеноспектральных линий химических элементов.
Оборудование

Растровый электронный микроскоп SIGMA Carl Zeiss (Германия) с аналитическими системами микроанализа X-Max Oxford Instrument (Англия) и регистрации катодолюминесценции Mono CL2 Gatan (США)
Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-6390LV (Япония) c аналитической системой микроанализа INCAPentaFETx3 (с дисперсией по энергии) и INCA Wave (с дисперсией по длинам волн) Oxford Instrument (Англия)

Молекулярная спектроскопия
ИК-спектроскопия изучение неорганических (минерального и искусственного происхождения) и органических веществ, имеющих структурно-зависимые колебательные моды указанной спектральной области: съемка ИК спектра методом нарушенного полного внутреннего отражения НПВО, не требующий подготовки проб, кристалл ZnSe в спектральном диапазоне 650-4000 см-1– для веществ не реагирующих с ZnSe; методом пропускания (спектральный диапазон 4000 – 400 см-1) – вещество гомогенизируется в бромиде калия и прессуется в таблетки.
КР-спектроскопия изучение неорганических (минерального и искусственного происхождения) и органических и веществ, имеющих структурно-зависимые колебательные моды указанной спектральной области (3400 – 50 см-1) и низкий уровень флуоресценции: съемка КР спектра методом с возможной идентификацией вещества (по имеющимся базам денных) – вещество исследуется без разрушения в виде частиц и полированных поверхностей.
Оборудование

ИК-Фурье спектрометр Nicolet iS10 среднего диапазона (спектральный диапазон 4000 – 400 см-1) с приставкой НПВО (кристалл ZnSe со спектральным диапазоном 4000 – 650 см-1) и ИК микроскопом Continuum ThermoFischer Scientifc (США)
Дисперсионный конфокальный микроскоп комбинационного рассеяния модели DXR Smart Raman Microscope ThermoFischer Scientifc (США) – спектральный диапазон 3400 – 50 см-1, лазер-модуль 780 нм


