РЭМ JMS-35C (JEOL, Япония)
Растровый электронный микроскоп JSM-35C с аналитической приставкой — рентгеноспектральный микроанализатор SDS-35 (JEOL, Япония).
Электронно-микроскопические и рентгеноспектральные исследования объектов различной природы: анализ морфологии, микроструктуры, особенностей тонкого строения, фазовой неоднородности, дисперсности, качественный и количественный элементный анализ в микрообъемах для решения фундаментальных и прикладных задач геологии, геоэкологии, наук о материалах, междисциплинарных исследований и т.д.
Микроскоп:
- Режимы высокого вакуума.
- Детекторы: вторичных (SEI) и обратнорассеянных электронов (BEI), поглощенного тока.
- Изображение: SEI, BEI, AEI.
- Разрешение: 6 нм.
- Увеличение: 15–180 000 (пошаговое).
- Ускоряющее напряжение от 200 V до 39 kV: ток на образце 1 pA–1 mA.
- Максимальный размер образца до Æ 25 мм ´ h 10 мм, максимальный вес 0.5 кг.
- Представление результатов: фотоснимки.
Спектрометр:
- С дисперсией по длине волны.
- Определяемые элементы от Si до U.
- Набор спектра в точке.
- Газово-проточный счетчик: аргон — метановая смесь.
- Представление результатов: таблицы данных.
