РЭМ JSM-6390LV (JEOL, Япония, 2009)
Растровый электронный микроскоп JSM-6390LV (JEOL, Япония), интегрированный с микрорентгеноспектральным энергодисперсионным анализатором Oxford INCAEnergy (Oxford Instrument, Англия).
Электронно-микроскопические и рентгеноспектральные исследования объектов различной природы: анализ морфологии, микроструктуры, особенностей тонкого строения, фазовой неоднородности, дисперсности, качественный и количественный элементный анализ в микрообъемах для решения фундаментальных и прикладных задач геологии, геоэкологии, наук о материалах, междисциплинарных исследований и т.д.
Микроскоп:
- Режимы высокого (HV-mode) и низкого (LV-mode) вакуума.
- Детекторы: вторичных (SEI) и обратнорассеянных электронов (BEI).
- В режиме HV-mode. Изображение: SEI, BEI.
- Разрешение: 3 нм (30 кВ, WD 8 мм, SEI); 8 нм (3.0 кВ, WD 6 мм, SEI); 15 нм
- (1.0 кВ, WD 6 мм, SEI).
- Увеличение: от 5 (WD 48 мм) до 300 000 (пошаговое).
- В режиме LV-mode. Изображение: BEI.
- Разрешение: 4 нм (30 кВ, WD 5 мм, BEI).
- Ускоряющее напряжение 200V-39 kV: ток на образце 1 pA–1 mA.
- Максимальный размер образца до Æ 76 мм ´ h 10 мм.
- Представление результатов: фотоснимки в цифровом формате
- Bitmap, JPЕG, TIFF с разрешением 1280´960 или 2560´1220.
Спектрометр:
- Разрешение 133 eV.
- Определяемые элементы от Be до U.
- Набор спектра: точка, линия, площадь (прямоугольная, произвольная).
- Функции: карты распределения по линии, площади
- сканирования, режим Cameo, сравнения различных
- спектров путем наложения, синтез спектров по формуле.
- Охлаждающая среда: жидкий азот. Представление результатов:
- таблицы данных и спектры в формате Bitmap, JPЕG, TIFF, метафайл,
- EMSA, ISIS.
- Экспортирование отчетов как документы в форматах MS Word или HTML.
