Открыть меню

Электронная микроскопия, рентгеноспектральный микроанализ

Центр оснащен тремя растровыми электронными микроскопами, укомплектованными аналитическими приставками для микроанализа.

Сканирующие электронные микроскопы нового поколения:

РЭМ JSM-6390LV (JEOL, Япония)

РЭМ LEO-1400 (Англия)

РЭМ JMS-35C (JEOL, Япония)

© 2020 ИГиП ДВО РАН · Копирование материалов сайта без разрешения запрещено